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掃描探針顯微鏡（AFM）只能顯示材料表面的一部分，但它可以準確地反映材料表面的粗糙度[29]。 6 其他方法 等離子處理后高分子材料表面的動態(tài)重組導(dǎo)致材料的各種涂層性能發(fā)生變化。通過對這些涂層性能的測試和分析，可以依次分析聚合物表面動態(tài)變化的性能。例如，通過測試等離子處理后高分子材料與樹脂基體界面的剪切強度、某些高分子材料的染色性能和電性能等，來改變材料表面元素組成和極性基團的變化。。

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