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等離子體引發(fā)聚合機(jī)理

等離子體聚合是利用放電電離氣態(tài)單體,激光剝蝕電感耦合等離子體質(zhì)譜產(chǎn)生各種活性物質(zhì),通過這些活性物質(zhì)之間或活性物質(zhì)與單體之間的加成反應(yīng)形成聚合膜。而等離子體表面處理就是利用聚合的無機(jī)氣體(Ar2、N2、H2、02等)在等離子體表面進(jìn)行反應(yīng),通過引入比表面反應(yīng)對(duì)表面官能團(tuán)進(jìn)行侵蝕,形成交聯(lián)結(jié)構(gòu)層或自由基生成表面,游離于等離子體表面的自由基,可進(jìn)一步反應(yīng)產(chǎn)生特定的官能團(tuán),如氫過氧化物。在高分子材料表面引導(dǎo)含氧官能團(tuán)是比較常見的方法。

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以下是區(qū)分冷等離子體和激光的鏈接。什么是低溫等離子體?等離子體與我們熟悉的固體、液體和氣體一樣,等離子體引發(fā)聚合機(jī)理也是物質(zhì)的一種形式。隨著我們繼續(xù)加熱氣體,使其溫度越來越高,組成氣體的分子運(yùn)動(dòng)得越來越激烈,碰撞得越來越頻繁。因?yàn)槔涞入x子體本身的運(yùn)動(dòng)非常劇烈,加上這樣劇烈的運(yùn)動(dòng),它本身無法承受這樣劇烈的運(yùn)動(dòng),所以它分解并分裂成幾個(gè)帶正電荷的部分。

等離子體引發(fā)聚合機(jī)理

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因此,在強(qiáng)激光研究領(lǐng)域出現(xiàn)了一個(gè)新的術(shù)語,叫做“高能密度”。所謂“高能量密度”是指集中的脈沖光在一個(gè)相對(duì)較小的空間區(qū)域內(nèi),持續(xù)時(shí)間縮短。因此,激光的所有能量都集中在一個(gè)非常小的空間和時(shí)間內(nèi),可以在瞬間達(dá)到高強(qiáng)度。當(dāng)然,如果有一天,人們的技術(shù)水平提高了,連續(xù)激光也能達(dá)到高強(qiáng)度,脈沖激光就可能失去研究?jī)r(jià)值和應(yīng)用價(jià)值。

因此,大大提高了發(fā)光效率,降低了激光器的閾值電流。1970年,蘇聯(lián)朱弗研究所和美國(guó)貝爾實(shí)驗(yàn)室研制出兩種異質(zhì)結(jié)激光器,在室溫下連續(xù)工作,半導(dǎo)體激光器在光通信中得到了廣泛的應(yīng)用。Kramer和Alferov與集成電路的發(fā)明者Paul Kilby共同獲得了2000年的諾貝爾物理學(xué)獎(jiǎng),以表彰他們對(duì)半導(dǎo)體激光器的發(fā)展做出的重要貢獻(xiàn)。

下列物質(zhì)以等離子體狀態(tài)存在:高速運(yùn)動(dòng)的電子;處于激活狀態(tài)的中性原子、分子、自由基;電離的原子和分子;未反應(yīng)的分子、原子等,但物質(zhì)整體上保持電中性。等離子體清洗機(jī)的作用機(jī)理主要取決于等離子體中的活性顆粒。達(dá)到去除物體表面污漬的目的。就反應(yīng)機(jī)理而言,等離子體清洗機(jī)通常包括以下過程:無機(jī)氣體被激發(fā)到等離子體狀態(tài);氣相物質(zhì)被吸附在固體表面;被吸附基團(tuán)與固體表面分子反應(yīng)形成產(chǎn)物分子。產(chǎn)物分子被分析形成氣相。

3.真空度的選擇:適當(dāng)提高真空度可以使電子運(yùn)動(dòng)的平均自由程變大,因此從電場(chǎng)中獲得的能量大,有利于電離。其他時(shí)氧氣流量會(huì)準(zhǔn)時(shí),真空度越高,氧氣的相對(duì)份額越大,產(chǎn)生的活性顆粒濃度也就越大。但是,如果真空度過高,活性顆粒的濃度會(huì)下降。。等離子清洗機(jī)選用的非反應(yīng)氣體效果機(jī)理等離子清洗機(jī)采用的工藝氣體如Ar、He、H2等對(duì)或錯(cuò)的反應(yīng)氣體。

等離子體引發(fā)聚合機(jī)理

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另一種等離子體清洗對(duì)表面反應(yīng)機(jī)理中的物理反應(yīng)和化學(xué)變化起著重要作用,激光剝蝕電感耦合等離子體質(zhì)譜即等離子體裝置反應(yīng)性離子腐蝕或離子束腐蝕。兩者可以相互促進(jìn)清潔。電離層轟擊可以破壞干凈的表面,削弱其化學(xué)鍵,或形成一種容易吸收反應(yīng)劑的原子狀態(tài)。離子碰撞加熱被清洗的物體,使其更容易發(fā)生反應(yīng)。效果有良好的選擇性、清洗率、均勻性和方向性。下面介紹一下由氣體組成的等離子設(shè)備的典型物理清洗過程。等離子體物理清洗過程是氬等離子體清洗。

表面元素的變化和各種官能團(tuán)的衰變可以通過峰劈裂進(jìn)一步確定靜態(tài)二次離子質(zhì)譜(SSIMS)靜態(tài)二次離子質(zhì)譜(SSIMS)是20世紀(jì)70年代發(fā)展起來的一種表面分析技術(shù)。它用離子轟擊固體表面,激光剝蝕電感耦合等離子體質(zhì)譜然后將表面濺射的二次離子引入質(zhì)譜分析儀。經(jīng)質(zhì)量分離后,從檢測(cè)和記錄系統(tǒng)中獲得分析表面的元素或化合物的組成。由于離子束的穿透深度比電子束的穿透深度淺,二次離子法是一種有效的表面分析方法。