常見測試等離子清洗技術(shù)處理成效的幾種辦法等離子清洗技術(shù)處理成效是無法依據(jù)肉眼觀察來效驗的,那么一般我們有哪些方法可以測試呢?
一、水滴角測試法
水滴角(檢)測方法是公測效驗等離子體清洗機對產(chǎn)品清洗成效的常用方法,水滴角公測是可以很直觀看出等離子體處理設(shè)備對產(chǎn)品清洗是否有成效,可是也并不能夠依照這測量結(jié)果來判斷清洗后的產(chǎn)品實現(xiàn)清洗耍求,尤其是在清理Particle的生產(chǎn)技術(shù)中,依據(jù)水滴角公測的方法是效驗產(chǎn)品表層的Particle是否被徹底清理的。因此,如僅涉及到Particle是否去除干凈的效驗,是不建議用水滴角測試法的。
此外,材質(zhì)不同,其初始的表面能是不同的,反映出的水滴角數(shù)據(jù)也是不同的,通常,有(機)材料因材質(zhì)不同,清洗前后的變化差異性較大,而無機材料在經(jīng)等離子處理去除表層油污和表層粗化之后,其水滴角度數(shù)都會維持在一個較低的水平。還需要注意的是,水滴角公測需控制變量,即統(tǒng)一每次公測的水滴大小,及其確保公測用水無較大變化。
二、達因筆測試法
達因筆測試法是一種用成本低、測量快速、運行簡單的一種方法,那么達因筆的達因值是如何反映等離子體清洗的成效的呢?如等離子處理前后,達因值變化得越小,則說明表面能變化不大,等離子體清洗機的成效并不理想,相反的,達因值變化得越大,其產(chǎn)品的表面能提高,等離子處理的成效越好,此時如展開粘接、涂覆等工序,(效)果也更理想。
三、SEM掃描
SEM掃描,即電子掃描電鏡的簡稱,這種方法是可以將物體表層放大到幾千倍,將微觀的分子結(jié)構(gòu)拍攝出來。
四、紅外線掃描
用紅外線(檢)測機,可以公測出物品經(jīng)等離子處理機處理前后,物品表層的極性基團和元素成份組合情況。
五、拉推力公測
當效驗的產(chǎn)品是使用于粘接的,建議用這種方法,用拉力或推力測試法,更為很直觀,也更加實用和可靠。
六、高倍顯微鏡觀察法
這種方法是可以觀察到微觀條件下的情形,很適用于耍求清理Particle的相關(guān)產(chǎn)品。
七、切片法
此法是以制片為基礎(chǔ),再利用晶相顯微鏡觀察測量線路板孔內(nèi)刻蝕成效,適用于多層PCB及fpc柔性線路板等工業(yè)制片行業(yè)。
八、稱重法
稱重法是特別適合效驗等離子體清洗機對材料表層展開刻蝕和灰化的成效,主要目的是效驗等離子處理機械的均勻性,這是比較高的指標。常見測試等離子清洗技術(shù)處理成效的幾種辦法00224421